专注开发精密、数据化、智能化的电池测试设备
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可测样品尺寸φ300x10 四探针法测试 可自动导航 带X-Y-Z移动机构 可测膜片的方块电阻或金属膜厚度，并输出方阻或电阻率分布 检测速度：2点/s 最大点数20000点 位置精度：0.005mm 可测硅片、导电膜方阻等。
【粤公网安备44190002005818号】
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